发明名称 |
内建自测试以及修复装置及方法 |
摘要 |
一种具有后台内建自测试BBIST的存储器装置包含:多个存储器块;存储器缓冲器,其用以暂时从所述多个存储器块中的一者卸载数据;及存储器块应力控制器,其用以在暂时将所述数据卸载于所述存储器缓冲器上时控制施加到所述存储器块中的所述一者的应力测试。所述应力测试针对所述多个所述存储器块中的所述一者中的错误进行测试。 |
申请公布号 |
CN104412327A |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
申请号 |
CN201380011981.3 |
申请日期 |
2013.01.08 |
申请人 |
默思股份有限公司 |
发明人 |
本迪克·克莱韦兰;迪帕克·K·西克达尔;拉杰什·乔普拉;杰伊·帕特尔 |
分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/12(2006.01)I |
代理机构 |
北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 |
代理人 |
沈锦华 |
主权项 |
一种集成电路装置IC,其包括:主存储器,其包括多个存储器单元;暂时存储器;后台内建自测试模块BBISTM,其经配置以选择所述主存储器的一部分作为目标受测试存储器TMUT、将来自所述TMUT的数据高速缓存到所述暂时存储器中,且对所述TMUT施加测试;且其中所述BBISTM在所述IC于现场操作期间操作以执行外部存取时同时操作。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |