发明名称 相变材料GeTe的耦合等离子体刻蚀方法
摘要 本发明提供一种相变材料GeTe的耦合等离子体刻蚀方法,包括步骤:1)于衬底上制备GeTe材料薄膜层;2)于所述GeTe材料薄膜层上形成刻蚀阻挡层,并图形化所述刻蚀阻挡层;3)将GeTe材料薄膜层送入具有BCl<sub>3</sub>和Ar的气体刻蚀腔中;4)在气体刻蚀腔中,通过施加电压,使得BCl<sub>3</sub>和Ar激发成等离子体体,BCl<sub>3</sub>主要起化学腐蚀作用,Ar<sup>+</sup>离子对材料表面进行轰击,两者协同作用,将暴露出来的GeTe材料去除,被刻蚀阻挡层保护的GeTe材料集成到器件或者电路当中。本发明选取了BCl<sub>3</sub>作为主要的化学反应气体,选取Ar气进行物理轰击,形成了表面光滑,侧壁垂直,侧壁损伤低的GeTe薄膜图形。本发明刻蚀速度很高,且能够很好的控制,具有较广泛的适用范围。
申请公布号 CN104409333A 申请公布日期 2015.03.11
申请号 CN201410768142.2 申请日期 2014.12.12
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 夏洋洋;刘波;王青;张中华;宋三年;宋志棠;封松林
分类号 H01L21/027(2006.01)I 主分类号 H01L21/027(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 李仪萍
主权项 一种相变材料GeTe的耦合等离子体刻蚀方法,其特征在于,包括步骤:1)提供一衬底,于所述衬底上制备GeTe材料薄膜层;2)于所述GeTe材料薄膜层上形成刻蚀阻挡层,并图形化所述刻蚀阻挡层;3)将具有刻蚀阻挡层的GeTe材料薄膜层送入具有BCl<sub>3</sub>和Ar的气体刻蚀腔中;4)在气体刻蚀腔中,通过施加电压,使得BCl<sub>3</sub>和Ar激发成等离子体,BCl<sub>3</sub>主要起化学腐蚀作用,Ar<sup>+</sup>离子对材料表面进行轰击,两者协同作用,将暴露出来的GeTe材料去除,被刻蚀阻挡层保护的GeTe材料集成到器件或者电路当中。
地址 200050 上海市长宁区长宁路865号