发明名称 一种基于PanTex和直线特征的高分辨率建设用地图斑识别方法
摘要 本发明公开了一种基于PanTex和直线特征的高分辨率建设用地图斑识别方法,具体步骤包括:步骤一、对高分辨率遥感影像和对应的土地利用图斑进行配准;步骤二、对土地利用图斑与高分辨率遥感影像进行叠加掩模,获取每个图斑多边形对应的独立图斑影像;步骤三、计算处理后高分辨率遥感影像的PanTex特征图像,统计每个图斑内PanTex指数的总和;步骤四、对处理后的独立图斑影像,提取图斑影像内的直线;步骤五、计算图斑的直线特征;步骤六、利用SVM两类分类器对图斑进行分类,提取建设用地图斑。本发明解决了PanTex指数在高分辨率遥感影像中大厂房、大屋顶失效的问题,算法简单高效,且结果为图斑形式,易于GIS数据库的更新。
申请公布号 CN104408463A 申请公布日期 2015.03.11
申请号 CN201410573134.2 申请日期 2014.10.15
申请人 中国土地勘测规划院 发明人 尤淑撑;孟瑜;武斌;刘顺喜;岳安志;陈静波;王忠武;袁媛;沈均平
分类号 G06K9/62(2006.01)I 主分类号 G06K9/62(2006.01)I
代理机构 国防专利服务中心 11043 代理人 胡永贵
主权项 一种基于PanTex和直线特征的高分辨率建设用地图斑识别方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤一、对高分辨率遥感影像和对应的土地利用图斑进行影像与矢量配准;步骤二、对步骤一处理后的土地利用图斑矢量文件与高分辨率遥感影像进行叠加掩模操作,获取每个图斑多边形对应的影像区域,得到独立图斑影像;步骤三、计算步骤一处理后高分辨率遥感影像的PanTex特征图像,统计每个图斑内PanTex指数的总和;步骤四、对经过所述步骤二处理后的独立图斑影像,提取图斑影像内的直线;步骤五、对经过所述步骤四处理后的直线计算图斑的直线特征;步骤六、基于步骤三和步骤五得到的PanTex指数特征和直线特征,利用SVM两类分类器对所述步骤二得到的图斑进行分类,提取建设用地图斑。
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