| 发明名称 |
地表下地層の温度を評価する方法 |
| 摘要 |
Methods for assessing a temperature in an opening in a subsurface formation are described herein. A method may include assessing one or more dielectric properties along a length of an insulated conductor located in the opening and assessing one or more temperatures along the length of the insulated conductor based on the one or more assessed dielectric properties. |
| 申请公布号 |
JP5684268(B2) |
申请公布日期 |
2015.03.11 |
| 申请号 |
JP20120533357 |
申请日期 |
2010.10.08 |
| 申请人 |
シエル・インターナシヨナル・リサーチ・マートスハツペイ・ベー・ヴエー |
发明人 |
アローラ，ドルブ;バス，ロナルド・マーシヤル;バーンズ，デイビツド・ブース;デ・セント・レミー，エドワード・エベレツト;ゲスアルデイ，エリツク・アブリユー;グエン，スコツト・ビン;トンプソン，ステイーブン・テイラー |
| 分类号 |
G01V3/08;G01K7/34;G01K13/00 |
主分类号 |
G01V3/08 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
