发明名称 Verfahren für die Ausbildung eines Halbleiterbauteils
摘要 Verfahren für die Ausbildung eines Halbleiterbauteils (600), wobei das Verfahren aufweist: Empfangen eines Substrates (102), wobei das Substrat (102) einen Halbleiter (604) enthält; Vorbereiten einer Oberfläche (112) des Substrates (102); Ausbilden einer Abschlussschicht (502) auf dem Halbleiter (604) an der Oberfläche (112) des Substrates (102); und Abscheiden einer dielektrischen Schicht (106) über der Abschlussschicht, wobei das Abscheiden der dielektrischen Schicht (106) darauf ausgelegt ist, die Abschlussschicht (502) nicht zu unterbrechen, wozu das Abscheiden der dielektrischen Schicht (106) bei einer Temperatur von weniger als oder bei 300°C durchgeführt wird.
申请公布号 DE102013104015(B4) 申请公布日期 2015.02.19
申请号 DE201310104015 申请日期 2013.04.22
申请人 TAIWAN SEMICONDUCTOR MANUFACTURING CO., LTD. 发明人 WANG, CHIEN-HSUN;WANG, SHIH WEI;DROOPAD, RAVI;DOOMBOS, GERBEN;VELLIANITIS, GEORGIOS;PASSLACK, MATTHIAS
分类号 H01L21/336;H01L21/283;H01L21/314;H01L21/8234;H01L29/49 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
地址