发明名称 | 用于基板清洗及乾燥之方法及设备;METHOD AND APPARATUS FOR SUBSTRATE RINSING AND DRYING | ||
摘要 | 本文揭露之方法及设备系用于在半导体制造中最佳化清洗及乾燥制程。如此的最佳化系为了最大化制程产量并同时保持低缺陷数及高元件良率,并利用模拟及实验数据来设定用于清洗及乾燥制程的最佳制程参数。本文亦揭露清洗液及冲洗气体喷嘴移动的改良方法。 | ||
申请公布号 | TW201507017 | 申请公布日期 | 2015.02.16 |
申请号 | TW103109702 | 申请日期 | 2014.03.14 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 佛那斯卡 卡洛斯A;卡卡希 麦可A |
分类号 | H01L21/306(2006.01) | 主分类号 | H01L21/306(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 周良谋周良吉 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |