发明名称 半导体元件及其制法
摘要
申请公布号 TWI473148 申请公布日期 2015.02.11
申请号 TW098128781 申请日期 2009.08.27
申请人 中国台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 徐鹏富;柯昕君;林纲正;黄国泰
分类号 H01L21/285;H01L29/49 主分类号 H01L21/285
代理机构 代理人 洪澄文 台北市南港区三重路19之6号2楼;颜锦顺 台北市南港区三重路19之6号2楼
主权项 一种半导体元件之制法,包括:形成一界面氧化层于一半导体基材之上,其中形成该界面氧化层包括对该界面氧化层进行一湿式清洁制程,以使该半导体基材之表面上具有氢原子;形成一缓冲层直接位于该界面氧化层之上;以及形成一高介电常数层直接位于该缓冲层之上。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号