发明名称 选择性转移半导体元件的方法;METHOD OF SELECTIVELY TRANSFERRING SEMICONDUCTOR DEVICES
摘要 一种选择性分离半导体元件的方法,系包含下列步骤:a.提供一基板具有一第一表面及一第二表面;b.提供复数个半导体磊晶叠层位于第一表面上,其中任一复数个半导体磊晶叠层包含一第一半导体磊晶叠层与一第二半导体磊晶叠层,且第二半导体磊晶叠层与第一半导体磊晶叠层隔开,其中第一半导体磊晶叠层与基板之间之黏着力不同于第二半导体磊晶叠层与基板之间之黏着力;c.自基板选择性地分离第一半导体磊晶叠层或第二半导体磊晶叠层。; b. providing a plurality of semiconductor stacking layers on the first surface, wherein the plurality of semiconductor stacking layers comprises a first semiconductor stacking layer and a second semiconductor stacking layer, and the first semiconductor stacking layer and the second semiconductor stacking layer are separated, wherein the adhesion force between the first semiconductor stacking layer and the substrate is different from that of the second semiconductor stacking layer and the substrate; c. selectively separating the first semiconductor stacking layer or the second semiconductor stacking layer from the substrate.
申请公布号 TW201505084 申请公布日期 2015.02.01
申请号 TW102127217 申请日期 2013.07.29
申请人 晶元光电股份有限公司 发明人 吕志强;林俊宇;陈怡名;林敬倍;简崇训;黄建富;顾浩民;谢明勋;徐子杰
分类号 H01L21/30(2006.01) 主分类号 H01L21/30(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新竹市新竹科学工业园区力行五路5号