| 发明名称 | 一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法及装置，其中，干涉光谱成像仪相位误差修正方法包括对干涉光谱成像仪获取的干涉图的小双边部分进行IFFT快速傅立叶逆变换得到相位因子，以及对所述相位因子进行FFT快速傅立叶变换得到对称化函数；将所述干涉图与所述对称化函数进行卷积处理得到卷积干涉图；对所述卷积干涉图进行IFFT得到复原光谱函数，以及对所述卷积干涉图的小双边部分进行IFFT得到相位误差因子；根据所述相位误差因子对所述复原光谱函数进行修正，得到目标光谱函数。先在时域对干涉图进行修正，再在频域对光谱函数进行修正，提高复原光谱的精度，同时兼顾计算速度。 | ||
| 申请公布号 | CN104316188A | 申请公布日期 | 2015.01.28 |
| 申请号 | CN201410648156.0 | 申请日期 | 2014.11.15 |
| 申请人 | 中国科学院光电研究院 | 发明人 | 景娟娟;吕群波;相里斌;周锦松 |
| 分类号 | G01J3/45(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人 | 郑立明;郑哲 |
| 主权项 | 一种干涉光谱成像仪相位误差修正方法，其特征在于，包括：对干涉光谱成像仪获取的干涉图的小双边部分进行IFFT快速傅立叶逆变换得到相位因子，以及对所述相位因子进行FFT快速傅立叶变换得到对称化函数；将所述干涉图与所述对称化函数进行卷积处理得到卷积干涉图；对所述卷积干涉图进行IFFT得到复原光谱函数，以及对所述卷积干涉图的小双边部分进行IFFT得到相位误差因子；根据所述相位误差因子对所述复原光谱函数进行修正，得到目标光谱函数。 | ||
| 地址 | 100080 北京市海淀区中关村东路95号 | ||