发明名称 测试适配器及其与待测器件光学对准和热耦合的实现方法
摘要 本发明涉及测试适配器及其与待测器件光学对准和热耦合的实现方法。多个独立的组件被柔性安装到传力机构,以将待测器件(DUT)与测试设备光学对准和热耦合。第一组件包括光学连接器。第一组件具有对准特征和第一柔性接口。第二组件包括耦合到一结构的热控制构件和传力构件。通道允许第一组件的臂的一部分延伸穿过该结构。传力构件提供用于额外的柔性接口的相应支座。对准特征接合相应的特征,以在柔性接口在外力下压缩之前将光学连接器与DUT对准。组件的柔性安装容纳DUT中的制造公差,使得DUT上的接触力相对一致,从而允许测试设备和DUT之间的一致的光学和热耦合。
申请公布号 CN102435790B 申请公布日期 2015.01.21
申请号 CN201110241567.4 申请日期 2011.08.17
申请人 安华高科技通用IP(新加坡)公司 发明人 弗兰克·叶歇;大卫·J·K·麦都卡夫特;成-库姆·陈
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 刘国伟
主权项 一种用于提供设备与待测器件之间的独立的光学对准和热耦合的设备,所述设备包括:第一组件,其包括:板,其被柔性地安装和布置,以支撑光学连接器,以及第一对准特征,其被布置来使所述光学连接器对准所述待测器件;以及与所述第一组件独立的第二组件,所述第二组件包括:第一热控制构件,其被柔性地安装,并具有被布置来与所述待测器件的相应表面接触的第一表面,其中,所述光学连接器通过臂并通过滑架被附装到所述板上。
地址 新加坡新加坡市