发明名称 半导体装置
摘要 实施形态的半导体装置,系具备:第1导电形的第1半导体层;第1导电形的第2半导体层及第2导电形的第3半导体层,系于前述第1半导体层上,交互设置于对于前述第1半导体层的主面略平行之方向;第2导电形的第4半导体层,系设置于前述第2半导体层及前述第3半导体层上;第1导电形的第5半导体层,系选择性设置于前述第4半导体层的表面;控制电极,系于从前述第5半导体层的表面,贯通前述第4半导体层,并连接前述第2半导体层之沟内,隔着绝缘膜而设置;第1主电极,系连接于前述第1半导体层;第2主电极,系连接于前述第4半导体层及前述第5半导体层;及第1导电形的第6半导体层,系设置于前述第4半导体层与前述第2半导体层之间。前述第6半导体层的不纯物浓度,系比前述第2半导体层的不纯物浓度还高。
申请公布号 TWI470768 申请公布日期 2015.01.21
申请号 TW100109008 申请日期 2011.03.16
申请人 东芝股份有限公司 日本 发明人 斋藤涉;小野昇太郎;谷内俊治;渡边美穗;山下浩明
分类号 H01L27/085;H01L29/40 主分类号 H01L27/085
代理机构 代理人 林志刚 台北市中山区南京东路2段125号7楼
主权项 一种半导体装置,其特征为:具备:第1导电形的第1半导体层;第1导电形的第2半导体层及第2导电形的第3半导体层,系于前述第1半导体层上,交互设置于对于前述第1半导体层的主面略平行之方向;第2导电形的第4半导体层,系设置于前述第2半导体层及前述第3半导体层上;第1导电形的第5半导体层,系选择性设置于前述第4半导体层的表面;控制电极,系于从前述第5半导体层的表面,贯通前述第4半导体层,并连接前述第2半导体层之沟内,隔着绝缘膜而设置;第1主电极,系连接于前述第1半导体层;第2主电极,系连接于前述第4半导体层及前述第5半导体层;及第1导电形的第6半导体层,系设置于前述第4半导体层与前述第2半导体层之间;前述第6半导体层的不纯物浓度,系比前述第2半导体层的不纯物浓度还高;前述第6半导体层的底面与前述第4半导体层的底面之间的距离,系比前述控制电极的下端与前述第4半导体层的底面之间的距离还短。
地址 日本
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