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发明名称
化合物半导体装置及其制造方法
摘要
一种化合物半导体装置之一实施例包括:一基材;一电子通道层及一电子供应层,其形成在该基材上方;一闸极电极,一源极电极及一汲极电极,其形成在该电子供应层上或上方;一第一p型半导体层,其形成在该电子供应层与该闸极电极之间;及一第二p型半导体层,其形成在该电子供应层与该源极电极及该汲极电极中之至少一电极之间。在该第二p型半导体层上之该源极电极及该汲极电极中之该一电极包括:一第一金属膜;及一第二金属膜,其在该第一金属膜之闸极电极侧接触该第一金属膜,且该第二金属膜之电阻比该第一金属膜之电阻高。
申请公布号
TWI470794
申请公布日期
2015.01.21
申请号
TW101126455
申请日期
2012.07.23
申请人
创世舫电子日本股份有限公司 日本
发明人
鎌田阳一
分类号
H01L29/778;H01L21/28
主分类号
H01L29/778
代理机构
代理人
陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
一种化合物半导体装置,包含:一基材;一电子通道层及一电子供应层,其形成在该基材上方;一闸极电极,一源极电极及一汲极电极,其形成在该电子供应层上或上方;一第一p型半导体层,其形成在该电子供应层与该闸极电极之间;及一第二p型半导体层,其形成在该电子供应层与该源极电极及该汲极电极中之至少一电极之间,其中在该第二p型半导体层上之该源极电极及该汲极电极中之该一电极包含:一第一金属膜;及一第二金属膜,其在该第一金属膜之该闸极电极侧接触该第一金属膜,且该第二金属膜之电阻比该第一金属膜之电阻高。
地址
日本
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