发明名称 半导体装置及半导体元件密封用硬化性聚矽氧组合物;SEMICONDUCTOR DEVICE AND CURABLE SILICONE COMPOSITION FOR SEALING A SEMICONDUCTOR ELEMENT
摘要 本发明之课题在于提供一种半导体装置,其系利用聚矽氧硬化物将经镀金之导线或基板及半导体元件密封而形成,且吸湿回焊试验后之可靠性优异。;本发明之半导体装置系一种利用聚矽氧硬化物将经镀金之导线或基板及半导体元件密封而成者,且上述聚矽氧硬化物为至少包含(A)于一分子中至少具有2个烯基之有机聚矽氧烷、(B)于一分子中至少具有2个键结矽原子之氢原子之有机氢化聚矽氧烷、(C)键结硫原子且具有键结矽原子之水解性基之有机矽化合物、及(D)矽氢化反应用铂系触媒之矽氢化反应硬化性聚矽氧组合物之硬化物。
申请公布号 TW201502208 申请公布日期 2015.01.16
申请号 TW103118858 申请日期 2014.05.29
申请人 道康宁东丽股份有限公司 发明人 宫本侑典;吉田宏明
分类号 C08L83/05(2006.01);C08L83/07(2006.01);C08K5/548(2006.01);C08K3/10(2006.01);H01L23/29(2006.01) 主分类号 C08L83/05(2006.01)
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 日本