发明名称 基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率快速无损测试方法
摘要 本发明公开了一种基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率快速无损测试方法,该方法包括:S1.水稻种子样品的收集与水稻种子的老化处理;S2.水稻种子近红外光谱数据的采集;S3.水稻种子发芽试验;S4.水稻种子近红外光谱数据的波段选择和预处理;S5.基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率模型的建立与检验。本发明的方法能够通过采集具有不同老化时间段水稻种子的近红外光谱数据,经对近红外光谱数据进行波段选择和预处理,采用偏最小二乘法建立基于近红外光谱的水稻种子发芽率模型,经检验模型准确可靠,具有实际应用性。该发明方法能够达到快速、无损和准确测试水稻种子发芽率。
申请公布号 CN104255118A 申请公布日期 2015.01.07
申请号 CN201410027792.1 申请日期 2014.01.22
申请人 南京农业大学 发明人 李毅念;姜丹;刘璎瑛;丁为民;丁启朔;查良玉
分类号 A01C1/02(2006.01)I 主分类号 A01C1/02(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 基于近红外光谱技术的水稻种子发芽率快速无损测试方法,该方法包括步骤:S1.收集水稻种子样品,并对水稻种子进行老化处理;S2.采集具有不同老化时间段水稻种子的近红外光谱数据;S3.对具有不同老化时间段的水稻种子按照国家标准进行发芽试验,测试发芽率数值;S4.利用校正集相关系数(RC)、校正标准误差(SEC)、验证集相关系数(RP)和验证预测标准误差(SEP)这4个参数值作为检验标准选取近红外光谱波段和确定预处理方法;S5.通过化学计量学分析软件利用偏最小二乘法建立水稻种子近红外光谱的发芽率测试校正集预测模型,并且对校正集预测模型进行检验,确定校正集预测模型的精确度。
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