| 发明名称 | 在计算机断层造影仪中的误差识别 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种用于在计算机断层造影仪（1）中进行误差识别的方法，所述计算机断层造影仪包括具有旋转阳极（10）的X射线管（2）以及至少一行探测器（3），其中借助所述计算机断层造影仪（1）进行测试测量，在所述测试测量的过程中，时间分辨地采集至少一个探测器行（13a，13b）中的照射强度（B）。按照本方法确定在旋转阳极频率（f<sub>A</sub>）和/或该频率（f<sub>A</sub>）的整数倍的情况下所采集的照射强度（B）的至少一个光谱选择性的波动（Fx）。从光谱选择性的波动（F<sub>F</sub>）导出对于X射线管（2）的板冲击强度的度量。 | ||
| 申请公布号 | CN102772218B | 申请公布日期 | 2015.01.07 |
| 申请号 | CN201210142603.6 | 申请日期 | 2012.05.09 |
| 申请人 | 西门子公司 | 发明人 | R.劳佩克;N.鲁斯卡;O.塞姆布里兹基 |
| 分类号 | A61B6/03(2006.01)I | 主分类号 | A61B6/03(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 谢强 |
| 主权项 | 一种用于在计算机断层造影仪(1)中进行误差识别的方法，所述计算机断层造影仪包括具有旋转阳极(10)的X射线管(2)以及至少一行探测器(3)，其中借助所述计算机断层造影仪(1)进行测试测量，在所述测试测量的过程中，时间分辨地采集至少一个探测器行(13a，13b)中的照射强度(B)，其中，确定在旋转阳极频率(f<sub>A</sub>)和/或该频率(f<sub>A</sub>)的整数倍的情况下所采集的照射强度(B)的至少一个光谱选择性的波动(F<sub>F</sub>)并且其中从所述光谱选择性的波动导出对于X射线管(2)的板冲击强度的度量，其中所述光谱选择性的波动是照射强度的周期性地随着旋转阳极频率或该频率的整数倍变化的部分。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||