于非挥发记忆体系统中损坏区块隔离的方法及其相关非挥发记忆体器件

摘要

本发明揭示一种提供改进识别及隔离非挥发记忆体器件中损坏区块之方法及装置，该等非挥发记忆体器件具有非挥发储存元件之复数个使用者可存取区块，其中每一区块亦具有一相关的损坏区块锁存器。该方法提供用于感测每一损坏区块锁存器以判断该损坏区块锁存器是否因损坏而设定，并将对应于每一设定锁存器的位址资料暂时储存在晶片记忆体。该方法进一步包括取回位址资料，并基于该位址资料而使损坏区块失效。一非挥发记忆体器件亦描述具有一控制器，其感测该等损坏区块锁存器，储存具有一设定锁存器之每一区块的位址资料，且随后取回储存的位址资料，以基于该位址资料设定该等损坏区块锁存器。

主权项

一种处理一非挥发记忆体器件中损坏区块(defective blocks)之方法，该非挥发记忆体器件包含复数个非挥发储存元件之使用者可存取区块，每一区块具有一相关的损坏区块锁存器(defective block latch)，该方法包含：感测每一损坏区块锁存器，以判断该损坏区块锁存器是否因一损坏而被设定；将对应到每一被设定的锁存器的位址资料储存于该记忆体器件中的暂时记忆体；在该位址资料已储存，及使用表示每一个别区块系损坏的一标记(indicia)来程式化实质上全部该等使用者可存取区块之后，重新设定该等被设定之损坏区块锁存器；以及取回该位址资料，并基于该位址资料使损坏区块失效。