发明名称 Verfahren für die Streustrahlungskorrektur und eine Vorrichtung für die Aufnahme von Schwächungsbildern
摘要 Verfahren für die Streustrahlungskorrektur mit den Verfahrensschritten:–Erzeugen von Strahlung (6) mit einer Strahlungsquelle (2) und Durchleuchten eines zu untersuchenden Objekts (8) mit Hilfe der Strahlung (6);–Beaufschlagen einer Detektorvorrichtung (9) mit der Strahlung (6) und Erfassen von Schwächungsbildern in unterschiedlichen Energiebereichen durch die Detektorvorrichtung (9); und–Bestimmen eines durch Streuung hervorgerufenen Sekundärstrahlungsanteils durch eine der Detektorvorrichtung (9) nachgeschaltete Auswerteeinheit (10) und Korrektur der Schwächungsbilder hinsichtlich des Sekundärstrahlungsanteils auf einen durch Schwächung erzeugten Primarstrahlungsanteil, dadurch gekennzeichnet, dass aus den Bildwerten der in unterschiedlichen Energiebereichen aufgenommenen Schwächungsbildern in einem Korrekturbildbereich (48), der einen Objektbereich mit homogenen Absorptionskoeffizienten abbildet, der jeweilige Sekundärstrahlungsanteil der in unterschiedlichen Energiebereichen aufgenommenen Schwächungsbildern bestimmt wird.
申请公布号 DE102006046732(B4) 申请公布日期 2014.12.31
申请号 DE20061046732 申请日期 2006.09.29
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 BERNHARDT, PHILIPP, DR.;RÜHRNSCHOPF, ERNST-PETER
分类号 A61B6/00;G01N23/00 主分类号 A61B6/00
代理机构 代理人
主权项
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