发明名称 电子元件测试模块的启闭装置
摘要 本实用新型提供一种电子元件测试模块的启闭装置,测试模块设有测试座、盖体及连动框架,该盖体盖置于测试座上,该连动框架枢接盖体并扣合定位于测试座,该启闭装置包含移载机构及启闭单元,该移载机构设有作至少一方向位移的移载具以连结装配启闭单元,该启闭单元设有作至少一方向位移的压抵件及勾具,该压抵件压抵开启连动框架的扣具,该勾具勾持连动框架位移而脱离测试座,并利用连动框架带动盖体向外摆动开启,该启闭单元设有作至少一方向位移的推抵件以推抵连动框架带动盖体向内摆动,并搭配勾具勾持连动框架扣合定位于测试座而关闭盖体;可自动化启闭测试模块,不仅节省人力成本,并缩短启闭作业时间,达到节省成本及提升测试产能的实用效益。
申请公布号 CN204065166U 申请公布日期 2014.12.31
申请号 CN201420526759.9 申请日期 2014.09.12
申请人 台湾暹劲股份有限公司 发明人 郑炜彦;赖正鑫;陈奂维;陈彦玮;李政勋
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 代理人 孙皓晨
主权项 一种电子元件测试模块的启闭装置,其特征在于,包含:移载机构:设有至少一移送器,以驱动至少一移载具作至少一方向位移;启闭单元:装配于该移载机构的移载具,并设有至少一压抵件及勾具,该压抵件作至少一方向位移,以压抵开启该测试模块的连动框架的扣具,该勾具作至少一方向位移,以勾持该连动框架带动该测试模块的盖体摆动开启,该启闭单元还设有至少一推抵件,该推抵件作至少一方向位移,以推抵该连动框架带动该盖体摆动关闭。
地址 中国台湾台中市