发明名称 Ladungsteilchenstrahlgerät, Probenobservationssystem und Betriebsprogramm
摘要 Damit ein unerfahrener Benutzer leicht einen Unterschied zwischen Bildgebungsergebnissen, die auf einen Unterschied zwischen Observationsbedingungen zurückgehen, erkennen kann, lässt ein Computer einen Betriebsschirm (200) Observationsziel-Einstellschaltflächen (E141) zum Ändern einer Observationsbedingung für eine Probe anzeigen, die eine Kombination von Parametereinstellwerten eines Ladungsteilchenstrahlgeräts enthalten. Die Verarbeitungseinheit lässt den Betriebsschirm (200) eine Radarkarte (E144) anzeigen, die eine Charakteristik, angegeben durch drei oder mehr inkompatible Elemente, einer Observationsbedingung für jede der Observationsziel-Einstellschaltflächen (E141) enthält. Die Radarkarte (E144) gibt zumindest Elemente von hoher Auflösung, Betonung auf Oberflächenstruktur und Betonung auf Materialunterschied an.
申请公布号 DE112013001112(T5) 申请公布日期 2014.12.24
申请号 DE20131101112T 申请日期 2013.03.15
申请人 HITACHI HIGH-TECHNOLOGIES CORPORATION 发明人 KONISHI, YAYOI;SATO, MITSUGU,;TAKANO, MASAKI,;KONOMI, MAMI,;TAMAYAMA, SHOTARO,;NISHIMURA, MASAKO,;WATANABE, SHUNYA,
分类号 H01J37/24;H01J37/22;H01J37/28 主分类号 H01J37/24
代理机构 代理人
主权项
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