SYSTEM AND METHOD FOR ANALYZING OF DEFECT POSITION
摘要
<p>본 발명은 불량위치 분석 시스템 및 방법에 관한 것으로서, 설계 데이터 및 제품정보를 저장하는 단계; 인쇄회로기판 제조를 위한 판넬(Panel)의 검사공정마다 복수의 검사장치로부터 전달된 판넬 기준 불량 좌표를 수집하는 단계; 설계 데이터와 좌표변환기준을 이용하여 판넬 기준 불량 좌표를 대상별 불량 좌표로 변환하는 단계;를 포함할 수 있다.</p>
