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<p>다수의 터치 지점들의 실제 좌표들을 결정하기 위한 터치 디바이스(100)가 제공된다. 이 터치 디바이스(100)는 복수의 전극들(120, 130) 및 전극들(120, 130)에 연결되는 정규 스캐닝 회로(Normal Scanning Circuit) 및 다수의 터치 지점들의 실제 좌표를 출력하도록 원 좌표들로부터 다수의 터치 지점들의 고스트 좌표들을 제거하기 위한 분할 스캐닝 회로(Split Scanning Circuit)를 포함하는 스캐닝 회로를 포함한다. 터치 디바이스(100) 상의 다수의 터치 지점들의 실제 좌표들을 결정하기 위한 방법이 또한 제공된다.</p> |
