发明名称 Halbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung
摘要 <p>Ein Leistungshalbleiterbauelement umfasst ein erstes Substrat, das mit einem ersten Dotandentyp stark dotiert ist, wobei das erste Substrat eine Vorderfläche und eine Rückfläche aufweist, wobei die Rückfläche eine Rückseite des Bauelements bildet, einen vertikalen FET vom p-Typ und einen vertikalen FET vom n-Typ, die seitlich nebeneinander auf der Vorderfläche des ersten Substrats angeordnet sind, wobei einer der FETs eine erste Driftzone mit einer Dotierung aufweist, die zu dem ersten Dotanden des ersten Substrats komplementär ist, und wobei der FET vom p-Typ und der FET vom n-Typ das erste Substrat als eine gemeinsame Rückseite gemeinsam nutzen, und wobei eine Region zwischen der ersten Driftzone und dem ersten Substrat eine hoch leitfähige Struktur umfasst, die eine niedrig-ohmsche Verbindung zwischen der ersten Driftzone und dem ersten Substrat bereitstellt. Ferner wird ein Verfahren zum Herstellen eines solchen Bauelements bereitgestellt.</p>
申请公布号 DE102014107894(A1) 申请公布日期 2014.12.04
申请号 DE201410107894 申请日期 2014.06.04
申请人 INFINEON TECHNOLOGIES AUSTRIA AG 发明人 IRSIGLER, PETER;HIRLER, FRANZ;SCHULZE, HANS-JOACHIM
分类号 H01L27/092;H01L21/336;H01L21/8238 主分类号 H01L27/092
代理机构 代理人
主权项
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