| 摘要 |
1. Ультратонкая мембрана для исследования объектов в просвечивающем электронном микроскопе, содержащая медную сетку и закрепленную на ней пленку из прозрачного для электронов материала, закрывающую, по крайней мере, одну из ячеек сетки, отличающаяся тем, что прозрачный для электронов материал выбран из ряда: SiO, SiN, AlO, MgO, а пленка закреплена непосредственно на медной сетке.2. Ультратонкая мембрана по п.1, отличающаяся тем, что толщина пленки составляет 20-100 нм. |
