发明名称 一种基于激光透射的物料分选方法和装置
摘要 本发明提供一种基于激光透射的物料分选方法,利用激光线光源对待检测物料进行照射,基于不同物料的透明特性、体散射特性差异,激光线光源的透射光在其背面形成不同的强度和分布,光电传感器探测到光强度和分布信息,控制系统对信号进行处理,且与控制系统中预存的待保留物料的对应参数进行比对,判定是否为异物。本发明还提供了三种使用上述分选方法的分选装置。本发明的优点在于:由于不同内部结构的物料体散射特性不同,同样的激光线光源分别照射后,会在其背面形成不同能量强度、不同能量分布的光斑,即产生不同的透射散射光信号,利用光电传感器快速的识别这种信号强度、分布的差异,进而控制物料剔除装置将需剔除物料快速剔除。<!--1-->
申请公布号 CN102989693B 申请公布日期 2014.11.12
申请号 CN201210583710.2 申请日期 2012.12.28
申请人 合肥美亚光电技术股份有限公司 发明人 田明;林茂先;江东;常宏;刘宝莹;陈原;金鹏;李凯;胡修稳;何吉柱
分类号 B07C5/342(2006.01)I 主分类号 B07C5/342(2006.01)I
代理机构 安徽汇朴律师事务所 34116 代理人 丁瑞瑞
主权项 一种基于激光透射的物料分选方法,其步骤包括:利用激光线光源对待检测物料进行照射;光电传感器对透射过待检测物料的透射散射光进行信号探测并将所述信号传送至控制系统;所述控制系统判定所述待检测物料是否为异物;如是异物,则剔除,其特征在于:基于不同物料的透明特性、体散射特性差异,激光线光源的透射光在其背面形成不同的强度和分布,所述光电传感器探测到的是透射散射光的光强度和分布信息,所述控制系统对所述信号进行处理,且与控制系统中预存的待保留物料的对应参数进行比对,如果控制系统的处理结果没有落入预存的待保留物料的对应参数范围内,则判定为异物;所述激光线光源照射物料,光电传感器采集透射过所述待检测物料形成的透射散射光面信号、线信号或者点信号;定义所述待检测物料的下落轨迹面与所述激光线光源的出射面对称中心线相交的交点为Q1,所述待检测物料下落轨迹面与所述光电传感器中心主光轴相交的交点Q2,所述交点Q1与Q2间的垂直距离为d,待保留物料透射散射光光斑区域最外部边缘处于所述光电传感器的探测区域内的临界状态所对应的d为d1,待剔除物料透射散射光光斑区域最外部边缘处于所述光电传感器的探测区域内的临界状态所对应的d为d2;当所述d1&gt;d2时,所述激光线光源,物料下落轨迹,光电传感器的设置关系保证所述d2<d≤d1;当所述d2&gt;d1时,所述激光线光源,物料下落轨迹,光电传感器的设置关系保证所述d1<d≤d2。
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