集成电路的标识

摘要

一般地描述了针对集成电路(IC)产生标识号的技术。在一些示例中，用于产生IC的标识的方法可以包括：选择IC的电路元件；估计针对所选电路元件的IC的属性的测量，其中各个测量与先前应用于IC的相应输入矢量相关联；对至少部分地基于针对所选电路元件的IC的属性所获取的测量而形成的多个等式进行求解，以确定所选电路元件的比例因子；以及对针对所选电路元件的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。还公开了其它变体和实施例。

主权项

一种使计算设备产生包括电路元件的集成电路IC的标识号的方法，所述方法包括：选择IC的电路元件；针对所选电路元件估计IC属性的测量结果，其中各个测量结果与先前应用于IC的对应输入矢量相关联；对至少部分地基于针对所选电路元件所获取的IC属性的测量结果而形成的多个等式进行求解，以确定针对所选电路元件的比例因子，其中，电路元件的属性的比例因子为所述电路元件中属性的实际值与属性的标称值之比；以及对针对所选电路元件而确定的比例因子进行变换，以产生IC的标识号。