摘要 |
Wynalazek ma zastosowanie do zabezpieczenia naturalnych przełomów heterostruktur materiału półprzewodnikowego, tworzących lustra lasera, a następnie uformowania oczekiwanego stosunku mocy optycznych emitowanych z obu luster, przedniego i tylnego. Konstrukcja pokrycia tylnego lustra lasera pólprzewodnikowego charakteryzuje się tym, że począwszy od powierzchni lustra półprzewodnikowego stanowi sekwencję sześciu warstw w kolejności: pierwsza warstwa adhezyjna, pierwsza warstwa izolacyjna, druga warstwa adhezyjna, warstwa metaliczna, trzecia warstwa adhezyjna i druga warstwa izolacyjna. Sposób wytwarzania tego pokrycia polega na tym, że po wcześniejszej pasywacji półprzewodnikowej powierzchni lustrzanej osadza się na niej w procesie próżniowym kolejne warstwy pokrycia wysokoodbiciowego metodą cieniową z zastosowaniem wystających ponad płaszczyznę pokrywanego lustra przekładek z materiału o współczynniku rozszerzalności cieplnej zbliżonym do współczynnika rozszerzalności cieplnej materiału laserującego, przy czym w pierwszym etapie osadza się kolejno pierwszą warstwę adhezyjna, pierwszą warstwę izolacyjną i drugą warstwę adhezyjna, pozycjonując uchwyt z linijkami laserowymi tak, że wiązki materiałów osadzanych padają prostopadle do pokrywanej powierzchni lustrzanej, zaś w drugim etapie, po uprzednim nachyleniu uchwytu z linijkami o kąt 0 równy 0-45° od normalnej do powierzchni lustrzanej, osadza się kolejno warstwę metaliczną, trzecią warstwę adhezyjna i drugą warstwę izolacyjną. |
申请人 |
INSTYTUT TECHNOLOGII MATERIA&Lstrok,ÓW ELEKTRONICZNYCH |
发明人 |
TEODORCZYK MARIAN;MAL&Aogon,G ANDRZEJ;D&Aogon,BROWSKA-TUMA&Nacute,SKA EL&Zdot,BIETA;GAJEWSKI MICHA&Lstrok,;SOBCZAK GRZEGORZ |