快闪记忆体使用期限评估方法

摘要

一种快闪记忆体使用期限评估方法，系提供控制中心(control center)对电子装置的内建式(built-in)或扩充式(expand)快闪记忆体(flash memory)的理想使用期限(standard lifetime)进行动态地修正、侦测与评估，该方法包含系根据该快闪记忆体的容量计算出该理想使用期限，且在该快闪记忆体与该控制中心之至少其一者建立保留区域(spare area)，又该控制中心产生测试指令(testing command)并传送至该快闪记忆体，以供该快闪记忆体根据该测试指令执行记忆体测试，而该快闪记忆体又依照该记忆体测试回馈一测试结果至该保留区域以作为修正参数(amended parameter)，以及该控制中心藉由取得(retrieve)在该保留区域所储存的该修正参数，以选择性地藉由该修正参数修正该理想使用期限。

主权项

一种快闪记忆体使用期限评估方法，系提供控制中心(control center)对电子装置的内建式(built-in)或扩充式(expand)快闪记忆体(flash memory)的理想使用期限(standard lifetime)进行动态地修正、侦测与评估，该方法包含：侦测该快闪记忆体中具有记忆区块(memory block)、记忆页面(memory page)与记忆晶胞(memory cell)的容量，并基于该快闪记忆体的结构型态计算出该理想使用期限；在该快闪记忆体与该控制中心之至少其一者建立保留区域(spare area)；自该控制中心产生测试指令(testing command)并传送至该快闪记忆体，以供该快闪记忆体根据该测试指令执行记忆体测试，而该快闪记忆体根据该记忆体测试回馈一测试结果至该保留区域以形成修正参数(amended parameter)；以及该控制中心取得(retrieve)在该保留区域的该修正参数，以选择性地以该修正参数修正该理想使用期限。