发明名称 |
用于制造电气碳化硅器件的碳化硅基板的方法 |
摘要 |
一种用于制造电气碳化硅器件的碳化硅基板的方法包括:提供包括硅面和碳面的碳化硅分配器晶片;在所述硅面上沉积碳化硅外延层。此外,该方法包括在所述外延层中利用预定义能量特性植入离子以形成植入区,以便在所述外延层中以对应于待制造的碳化硅基板的外延层的指定厚度的平均深度植入离子。此外,该方法包括将受体晶片结合到所述外延层上,以便所述外延层布置在分配器晶片和所述受体晶片之间。此外,沿着所述植入区划分所述外延层,以便获得由受体晶片与具有指定厚度的外延层表示的碳化硅基板。 |
申请公布号 |
CN104051242A |
申请公布日期 |
2014.09.17 |
申请号 |
CN201410094459.2 |
申请日期 |
2014.03.14 |
申请人 |
英飞凌科技股份有限公司 |
发明人 |
C.赫克特;T.赫希鲍尔;R.鲁普;H-J.舒尔策 |
分类号 |
H01L21/04(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/04(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
申屠伟进;徐红燕 |
主权项 |
一种用于制造电气碳化硅器件的碳化硅基板的方法,所述方法包括:提供包括硅面和碳面的碳化硅分配器晶片;在分配器晶片的所述硅面上沉积碳化硅外延层;在所述碳化硅外延层中利用预定义能量特性植入离子以形成植入区,其中,在所述碳化硅外延层中以对应于待制造的碳化硅基板的外延层的指定厚度的平均深度来植入离子;将受体晶片结合到所述碳化硅外延层上,以便所述碳化硅外延层布置在分配器晶片和所述受体晶片之间;以及沿着所述植入区划分所述碳化硅外延层,以便获得由受体晶片与具有指定厚度的外延层表示的碳化硅基板。 |
地址 |
德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号 |