发明名称 |
测试设备之取出段 |
摘要 |
一种测试设备之取出段包含一平台与一吸附装置。平台用以承载一承载物。承载物具有一发光晶粒本体、至少一对电极与一胶体。发光晶粒本体具有相对之一第一表面与一第二表面。第一表面面对平台,电极位于第一表面。胶体包覆发光晶粒本体,但露出第一表面与电极。平台具有至少一第一凸部与相对于第一凸部之至少一第一凹部。第一凸部用以接触至少部分之电极,第一凹部使得胶体在第一凹部所在的位置上与平台之间存在至少一第一间隙。吸附装置与平台分别位于承载物的相对两侧,用以将承载物朝向远离平台之一方向吸附。 |
申请公布号 |
TWM486051 |
申请公布日期 |
2014.09.11 |
申请号 |
TW103207544 |
申请日期 |
2014.04.30 |
申请人 |
旺矽科技股份有限公司 新竹县竹北市中和街155号 |
发明人 |
林修纬;余志中;林宏毅 |
分类号 |
G01R1/00 |
主分类号 |
G01R1/00 |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼 |
主权项 |
一种测试设备之取出段,包含:一平台,用以承载一承载物,该承载物具有一发光晶粒本体、至少一对电极以及一胶体,该发光晶粒本体具有相对之一第一表面与一第二表面,该第一表面面对该平台,该至少一对电极位于该第一表面,该胶体包覆该发光晶粒本体,但露出该第一表面与该至少一对电极,该平台具有至少一第一凸部与相对于该第一凸部之至少一第一凹部,该第一凸部用以接触至少部分之该对电极,该第一凹部使得该胶体在该第一凹部所在的位置上与该平台之间存在至少一第一间隙;以及一吸附装置,与该平台分别位于该承载物的相对两侧,用以将该承载物朝向远离该平台之一方向吸附。 |
地址 |
新竹县竹北市中和街155号 |