发明名称 以阻挡层为构成层的薄膜晶体管以及用于阻挡层的溅射成膜的Cu合金溅射靶
摘要 该Cu合金溅射靶含有以原子%计的Al:1~10%、Ca:0.1~2%,并含有Cu和1%以下的不可避免的杂质作为余量部分。该薄膜晶体管具有:经由密合层接合于玻璃基板的表面的栅电极层、栅绝缘层、Si半导体层、n型Si半导体层、阻挡层、由彼此分离的漏电极层和源电极层构成的布线层、钝化层以及透明电极层,上述阻挡层是使用上述Cu合金溅射靶在氧化气氛中溅射成膜而成的。
申请公布号 CN102349157B 申请公布日期 2014.09.10
申请号 CN200980157928.8 申请日期 2009.10.22
申请人 三菱综合材料株式会社;株式会社爱发科 发明人 牧一诚;谷口兼一;中里洋介;森晓
分类号 H01L29/786(2006.01)I;C22C9/00(2006.01)I;C22C9/01(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;H01L21/285(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I;H01L29/417(2006.01)I 主分类号 H01L29/786(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 孙秀武;高旭轶
主权项 阻挡层与n型Si半导体层具有高密合强度的薄膜晶体管,其特征在于,该薄膜晶体管具有:玻璃基板、栅电极层、栅绝缘层、Si半导体层、n型Si半导体层、阻挡层、由彼此分离的漏电极层和源电极层构成的布线层、钝化层以及透明电极层,上述层按照该顺序从上述玻璃基板侧依次层叠而形成,上述栅电极层经由密合层接合于上述玻璃基板的表面,上述阻挡层是使用Cu合金溅射靶在氧化气氛中溅射成膜而成的,所述Cu合金溅射靶具有如下成分组成:含有以原子%计的Al:1~10%、Ca:0.1~2%,并含有Cu和1%以下的不可避免的杂质作为余量部分。
地址 日本东京都