一种用于固体样品荧光变温测试的样品架

摘要

本实用新型公开一种用于固体样品荧光变温测试的样品架，包括金属样品槽片和底座，金属样品槽片安装在底座上；金属样品槽片包括弯曲成115~125°的衬片和角座；衬片的对光面开设有样品槽，衬片的背光面与样品槽对应的位置设有一夹片，金属样品槽片通过角座安装在底座上；衬片是圆形衬片或方形衬片，圆形衬片上的样品槽是直径为15~25mm的圆形样品槽；方形衬片上的样品槽是边长为15~25mm的方形样品槽，样品槽深度为0~1mm；衬片的厚度为1.6~2.1mm。本样品槽中的金属槽片设计成弯曲的115~125°，可有效抑制杂散光的干扰，面积足够大的衬片，保证可灵活控制薄膜、玻璃态、金属片镀层等固体样品的形状和大小。

主权项

一种用于固体样品荧光变温测试的样品架，其特征在于，包括金属样品槽片和底座，所述金属样品槽片安装在底座上；所述金属样品槽片包括弯曲成α度的衬片和角座，其中115＜α＜125；所述衬片的对光面开设有样品槽，衬片的背光面与样品槽对应的位置设有一夹片，金属样品槽片通过角座安装在底座上；衬片是直径为25~35mm的圆形衬片，该圆形衬片上开设的样品槽是直径为15~25mm，槽深为0~1mm的圆形样品槽；或衬片是边长为25~35mm的方形衬片，该方形衬片上开设的样品槽是边长为15~25mm，槽深为0~1mm的方形样品槽；衬片的厚度为1.6~2.1mm。