| 发明名称 | 绝对水平基准精度测试系统及测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种绝对水平基准精度测试系统及测试方法，该绝对水平基准精度测试系统包括二维电子水平仪、平面反射镜、整平基座以及双轴自准直仪；二维电子水平仪、平面反射镜以及整平基座自上而下依次设置在一起；双轴自准直仪设置在平面反射镜的上方并与平面反射镜置于同一光路。本发明提供了一种高自动化、高效率以及高精度的绝对水平基准精度测试系统及测试方法。 | ||
| 申请公布号 | CN104034349A | 申请公布日期 | 2014.09.10 |
| 申请号 | CN201410184200.7 | 申请日期 | 2014.05.04 |
| 申请人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明人 | 潘亮;陆卫国;肖茂森;白建明;于芳苏;任晚娜;孙国燕;田留德;薛勋;陈永权;段亚轩;胡丹丹;赵怀学 |
| 分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人 | 姚敏杰 |
| 主权项 | 一种绝对水平基准精度测试系统，其特征在于：所述绝对水平基准精度测试系统包括二维电子水平仪、平面反射镜、整平基座以及双轴自准直仪；所述二维电子水平仪、平面反射镜以及整平基座自上而下依次设置在一起；所述双轴自准直仪设置在平面反射镜的上方并与平面反射镜置于同一光路。 | ||
| 地址 | 710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号 | ||