发明名称 不均匀光场之自动光学检测比对方法及其系统
摘要 本发明系有关一种不均匀光场之自动光学检测比对方法及其系统,其方法部份包括下列步骤:一.准备步骤、二.最远点及最近点之设定步骤、三.初始灰阶分划步骤、四.上下阀值计算步骤、五.建立LUT(即Lookup Table,查找表)表步骤与六.影像比对步骤。藉前述步骤,以一影像撷取装置,分别对一待测物体位在一平板上距离影像撷取装置最近与最远位置拍摄,而得到两个目标影像,分别计算最近与最远两个目标影像之像素个数及其第一颜色平均之灰阶值,将两个灰阶值分别设为上、下限阀值。再拍摄待测物体位于平板上之实际座标时的目标影像,先找出其中心座标之灰阶值,进而以上、下限阀值找出目标影像之第一颜色像素个数的上、下阀值。重覆进行两次,找出对应实际座标之目标影像其余两种颜色的上、下阀值;再分别填入一比对模组的六个LUT表,完成建立六个LUT表,而可以六个LUT表对影像进行检测比对。故,本案兼具影像比对更精确、同时适用彩色及灰阶影像、可克服影像反光与应用范围广泛等优点。
申请公布号 TWI444911 申请公布日期 2014.07.11
申请号 TW100114347 申请日期 2011.04.25
申请人 逢甲大学 台中市西屯区文华路100号 发明人 林宸生;许原彰;吕安琮;田春林
分类号 G06K9/80;G01J1/10;G06T7/00 主分类号 G06K9/80
代理机构 代理人 赵元宁 台中市南区建国南路1段263号2楼
主权项 一种不均匀光场之自动光学检测比对方法,其包括下列步骤:一.准备步骤:预先准备一平板、一影像撷取装置、一比对模组及一待测物体;该平板具有一平面,其具有一平面范围MxN,该待测物体位于该平面范围MxN内时具有一实际座标(X,Y);该影像撷取装置用以朝该平板拍摄而取得一具有JxK个像素之影像;二.最远点及最近点之设定步骤:该影像撷取装置至该平板的平面范围MxN内之一最近点Pmin的距离被设为dmin,当该待测物体位于该最近点Pmin时所拍摄得到之该影像包括一目标影像及一背景影像,该目标影像具有nmax个像素个数且其第一颜色之平均之灰阶值被设为a1;该影像撷取装置至该平板的平面范围MxN内之一最远点Pmax的距离被设为dmax,当该待测物体于该最远点Pmax时所拍摄得到之该影像同样包括该目标影像及该背景影像,该目标影像则具有nmin个像素个数且其第一颜色之平均之灰阶值被设为a2;三.初始灰阶分划步骤:当该待测物体于该实际座标(X,Y)时,该具有JxK个像素之影像的第一颜色分量之灰阶分布为[1,2,3,...L];对该影像以该灰阶值a1、a2为上限、下限阀值,进行初始灰阶分划;四.上下阀值计算步骤:令f1为像素之第一颜色的灰阶分量函数,由该步骤二及该步骤三求出一中心点座标(X0,Y0)之灰阶值f1(x0,y0),令其上阀值p=f1(x0,y0)-1与下阀值k=f1(x0,y0)+1;以灰阶值f1(x0,y0)中心,于该上限、下限阀值范围内,计算该目标影像之像素个数n的上阀值p与下阀值k;重覆进行该最远点及最近点之设定步骤、该初始灰阶分划步骤及该上下阀值计算步骤两次,可分别求出该待测物体于该实际座标(X,Y)时之第二颜色的上、下阀值r与s,以及第三颜色的上、下阀值u与v;五.建立LUT表步骤:该比对模组具有一第一、一第二、一第三、一第四、一第五及一第六LUT表;于该第一、该第二、该第三、该第四、该第五及该第六LUT表之阵列(X",Y")分别填入第一颜色之上、下阀值p与k,以及第二颜色之上、下阀值r与s,与第三颜色之上、下阀值u与v;如此建立该六个LUT表;六.影像比对步骤:将检测作业中取得之影像传送至该比对模组,以该六个LUT表进行检测比对,即可比对出该目标影像之中心点座标(X0,Y0)及该目标影像之该像素个数n的上、下阀值,而使该影像清晰化;其中,于该上下阀值计算步骤中:当计算该目标影像之像素个数n:系当时,逐渐减少该上限阀值内之像素个数n,且增加下限阀值内之像素个数n;并当np-np-1〉nth,即确认该像素个数n之上阀值p;则该上阀值p固定;只逐渐减少该下限阀值内之像素个数n;其中nth为预定之差异值;且当时,即确认该像素个数n之下阀值k;至此确认该目标影像之该像素个数n的上、下阀值p与k。
地址 台中市西屯区文华路100号