发明名称 一种MOS管阈值电压测试电路
摘要 本发明公开了一种MOS管阈值电压测试电路。本电路通过测试PMOS管和NMOS管不同组合时的阈值电压,或者测试同一组合的多组电压值,然后根据组合的形式,算出MOS管阈值电压的平均值,如此可以得到MOS管实际的阈值电压,给高精度模拟电路设计提供了可靠的参考,同时对代工厂提供的仿真模型的准确性也有一个直观的把握,给后续的电路设计实现提供了依据。
申请公布号 CN102998513B 申请公布日期 2014.07.02
申请号 CN201210428681.2 申请日期 2012.11.01
申请人 长沙景嘉微电子股份有限公司 发明人 蒋仁杰
分类号 G01R19/00(2006.01)I 主分类号 G01R19/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种MOS管阈值电压测试电路,其特征在于:一个限流电阻R一端接电源VDD,另一端接电压测试点TP,测试点TP同时与开关K<sub>1</sub>、K<sub>2</sub>、K<sub>3</sub>、K<sub>4</sub>、K<sub>5</sub>、K<sub>6</sub>……K<sub>n</sub>的一端相连接;Case<sub>1</sub>、Case<sub>2</sub>、Case<sub>3</sub>、Case<sub>4</sub>、Case<sub>5</sub>、Case<sub>6</sub>……Case<sub>n</sub>是不同的测试电路结构,其中的MOS管都是栅漏短接的二极管连接方式,衬底都是和源极接一起;开关K<sub>1</sub>的一端连接TP,另一端连接Case<sub>1</sub>中PMOS管M<sub>1</sub>的源极,M<sub>1</sub>的栅极、漏极接地;开关K<sub>2</sub>的一端连接TP,另一端连接Case<sub>2</sub>中NMOS管M<sub>2</sub>的栅极、漏极,M<sub>2</sub>的源极接地;开关K<sub>3</sub>的一端连接TP,另一端连接Case<sub>3</sub>中PMOS管M<sub>3</sub>的源极,M<sub>3</sub>的栅极、漏极接PMOS管M4源极,M<sub>4</sub>的栅极、漏接地;开关K<sub>4</sub>的一端连接TP,另一端连接Case<sub>4</sub>中NMOS管M<sub>5</sub>的栅极、漏极,M<sub>5</sub>的源极与NMOS管M<sub>6</sub>的栅极、漏极连接,M<sub>6</sub>的源极接地;开关K<sub>5</sub>的一端连接TP,另一端连接Case<sub>5</sub>中PMOS管M<sub>7</sub>的源极,M<sub>7</sub>的栅极、漏极与NMOS管M<sub>8</sub>的栅极、漏极连接,M<sub>8</sub>的源极接地;开关K<sub>6</sub>的一端连接TP,另一端连接Case<sub>6</sub>中NMOS管M<sub>9</sub>的栅极、漏极,M<sub>9</sub>的源极与PMOS管M<sub>10</sub>的源极连接,M<sub>10</sub>的栅极、漏极接地;开关Kn的一端连接TP,另一端连接到Casen,Casen的电路形式可以是任意可能的待测电路;其中PMOS管M1、M3、M4、M7和M10的尺寸相同,NMOS管M2、M5、M6、M8和M9的尺寸相同,MOS管的具体尺寸可以根据需要设置。
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