发明名称 |
X射线成像装置和X射线成像方法 |
摘要 |
公开了能够至少通过单个成像操作获取被检体的微分相位图像或相位图像的X射线成像装置和X射线成像方法。X射线成像装置包括相位光栅(130)、吸收光栅(150)、检测器(170)和算术单元(180)。算术单元(180)执行通过对于由检测器获取的波纹图案的强度分布的傅立叶变换来获取空间频率谱的傅立叶变换处理。算术单元还执行使与载波频率对应的谱与由傅立叶变换处理获取的空间频率谱分离并然后使用逆傅立叶变换来获取微分相位图像的相位恢复处理。 |
申请公布号 |
CN103876761A |
申请公布日期 |
2014.06.25 |
申请号 |
CN201410089754.9 |
申请日期 |
2009.10.27 |
申请人 |
佳能株式会社 |
发明人 |
长井健太郎;田透;大内千种;伊藤英之助 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I;G01N23/04(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 |
代理人 |
杨国权 |
主权项 |
一种用于对被检体进行成像的X射线成像装置,包括:相位光栅,用于透射来自X射线源的X射线以用于通过Talbot效应形成干涉强度分布;吸收光栅,用于部分遮蔽由相位光栅形成的干涉强度分布以用于产生波纹;检测器,用于检测由吸收光栅产生的波纹的强度分布的信息;和算术单元,用于通过对由检测器所检测的波纹的强度分布的信息执行傅立叶变换来计算被检体的相位信息,其中,相位光栅包括相位超前部分和相位滞后部分,其中,相位超前部分和相位滞后部分是二维排列的,其中,吸收光栅包括透射部分和遮蔽部分,其中,透射部分和遮蔽部分是二维排列的,其中,检测器检测在两个方向上具有周期的波纹,以及其中,算术单元通过对由检测器的单个检测结果获取的波纹的强度分布的信息执行傅立叶变换从波纹的强度分布计算在所述两个方向上的相位信息。 |
地址 |
日本东京 |