发明名称 测量设备的窗口的污染检查
摘要 本发明涉及一种检测用于检测片状材料的测量装置的窗口的污染的方法,所述装置包括在片状材料输出方向的横向方向上对准的至少两个传感器排。传感器排均在特定频谱通道中检测来自片状材料的光。为了检测窗口污染的存在,当片状材料不存在于传感器排传感范围内时,传感器排在多个检测时刻检测光。根据本发明,频谱通道中的至少两个组合起来,并评估组合频谱通道的强度随时间的变化,以检测污染。组合频谱通道的强度随时间的小变化充当污染存在于窗口上的指示器。
申请公布号 CN103890562A 申请公布日期 2014.06.25
申请号 CN201280051451.7 申请日期 2012.10.17
申请人 德国捷德有限公司 发明人 D.萨库亚德;S.苏
分类号 G01N21/15(2006.01)I;G01N21/86(2006.01)I 主分类号 G01N21/15(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 曲莹
主权项 一种用于检查测量设备(1)的窗口(6)的污染的方法,所述测量设备用于检查在传输方向(x)上沿传输路径(T)传输通过所述测量设备(1)的片材(10),其中,所述测量设备(1)‑相应地具有用于至少两个不同频谱通道(R,G,B,IR)的一个传感器排(3a‑d),所述传感器排具有沿位于片材传输方向(x)的横向方向上的y方向的若干检测元件,以当片材(10)存在于传感器排的捕获区域中时,检测来自片材(10)的光,以及‑具有至少一个窗口(6),所述至少一个窗口布置在所述传感器排(3a‑d)与所述片材(10)的传输路径(T)之间,并且,其中,为了检查所述窗口(6)的污染,当所述传感器排(3a‑d)的捕获区域中不存在任何片材(10)时,检测经由所述窗口(6)撞击在所述传感器排(3a‑d)上的光的强度,其特征在于,为了检查所述窗口(6)的污染,‑当所述传感器排(3a‑d)的捕获区域中不存在任何片材时,具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的传感器排(3a‑d)中的至少两个分别在若干检测时刻(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>,…)相应地至少在沿y方向的一个y位置处检测经由窗口(6)撞击在相应传感器排(3a‑d)上的光的强度(I<sub>R</sub>,I<sub>G</sub>,I<sub>B</sub>,I<sub>IR</sub>),以及‑根据在检测时刻(t)由具有不同频谱通道(R,G,B,IR)的至少两个传感器排(3a‑d)检测的强度(I<sub>R</sub>,I<sub>G</sub>,I<sub>B</sub>,I<sub>IR</sub>),确定组合频谱通道(K)的强度(I<sub>K</sub>(t)),其中,相应地单独对于若干检测时刻(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>,…),确定所述组合频谱通道(K)的强度(I<sub>K</sub>(t<sub>1</sub>),I<sub>K</sub>(t<sub>2</sub>),…),以及‑对在若干检测时刻(t<sub>1</sub>,t<sub>2</sub>,…)确定的组合频谱通道(K)的强度(I<sub>K</sub>(t<sub>1</sub>),I<sub>K</sub>(t<sub>2</sub>),…)实施统计评估,以及‑基于所述统计评估,实施对所述测量设备(1)的窗口(6)的污染检查。
地址 德国慕尼黑