发明名称 |
丛集硬盘自动化测试方法及其系统 |
摘要 |
本发明揭示一种丛集硬盘自动化测试方法及其系统,采用三阶层结构化的第0阶排程模块、第1阶监控模块及第2阶测试模块对丛集硬盘进行测试;丛集硬盘测试系统包含:一测试服务器及一测试工作站,利用三阶层结构化的模块对硬盘在测试排程,进行不同风扇转速下的功能测试,并可产生分析结果与报表,达到自动化、减少人工工时与减少测试错误发生的目的。 |
申请公布号 |
CN102222517B |
申请公布日期 |
2014.06.11 |
申请号 |
CN201010148566.0 |
申请日期 |
2010.04.16 |
申请人 |
昆达电脑科技(昆山)有限公司;神达电脑股份有限公司 |
发明人 |
陈兴平;张晓文;陈万福 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01)I |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种丛集硬盘自动化测试方法,由一第0阶排程模块、一第1阶监控模块及一第2阶测试模块的三阶层结构化,对丛集的硬盘进行测试,其特征在于,其包含下列步骤:S1:设定该第0阶排程模块,规划硬盘的一测试矩阵;S2:使该第0阶排程模块依该测试矩阵,驱动该第1阶监控模块执行该测试矩阵中相对应的功能状态;S3:使该第1阶监控模块启动该第2阶测试模块,执行硬盘的功能测试;S4:使该第1阶监控模块监控该第2阶测试模块,是否完成硬盘的功能测试;S5:如果完成功能测试,则由该第1阶监控模块撷取该第2阶测试模块测试屏幕画面的数据,将数据传送至该第0阶排程模块,该第0阶排程模块将数据写入一档案;及S6:重复S3至S5直到所有的硬盘,依据该测试矩阵执行完成。 |
地址 |
215300 江苏省苏州市昆山市出口加工区269号 |