发明名称 |
利用蒙特卡罗方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法 |
摘要 |
利用蒙特卡罗方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法,涉及一种双能X射线成像进行物质识别的方法。它是为了解决目前在安检过程中,物质识别准确率低的问题。其方法:步骤一、利用蒙特卡罗方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程,产生轫致辐射,获得X射线谱;步骤二、对步骤一获得的X射线谱进行准直,准直后扫描待测样品,获得扫描图像;步骤三、分析步骤二获得的扫描图像,获得待测样品的识别曲线,根据该识别曲线与物质原子之间的关系,从而实现物质识别。本发明适用于安防检查。 |
申请公布号 |
CN102662196B |
申请公布日期 |
2014.06.04 |
申请号 |
CN201210141945.6 |
申请日期 |
2012.05.09 |
申请人 |
黑龙江省科学院技术物理研究所 |
发明人 |
张慧;梅雪松;庞杨;周巍;关世荣;韩业辉;黄龙川;滕立才 |
分类号 |
G01V5/00(2006.01)I |
主分类号 |
G01V5/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 |
代理人 |
汤东凤;张波涛 |
主权项 |
利用蒙特卡罗方法模拟双能X射线成像进行物质识别的方法,其特征在于:它由以下步骤实现:步骤一,利用蒙特卡罗方法模拟能量为9MeV和能量为6MeV的电子束轰击钨靶过程,产生轫致辐射,获得X射线谱;步骤二,对步骤一获得的X射线谱进行准直,准直后扫描待测样品,获得扫描图像;步骤三,分析步骤二获得的扫描图像,获得待测样品的识别曲线,根据该识别曲线与物质原子序数之间的关系,实现物质识别;其中,步骤一中能量为9MeV和能量为6MeV的电子束的直径为0.2cm,所述钨靶的直径为1.5cm、厚度为0.2cm。 |
地址 |
150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区科研街26号 |