发明名称 |
双轴张应变GeSn n沟道隧穿场效应晶体管 |
摘要 |
本发明提供一种带有双轴张应变的GeSnn沟道隧穿场效应晶体管(10),其结构包括衬底(101)、源极(102)、漏极(104)、GeSnn沟道(103)、绝缘介电质薄膜(105)以及栅电极(106)。源极、n沟道、漏极形成竖直的器件结构。源极区域材料的晶格常数比GeSnn沟道(103)晶格常数大。GeSnn沟道形成XY面内的双轴张应变,这种应变有利于沟道GeSn从间接带隙转变为直接带隙,从而发生直接量子隧穿,隧穿电流增大,进而提高器件性能。 |
申请公布号 |
CN103824880A |
申请公布日期 |
2014.05.28 |
申请号 |
CN201410057748.5 |
申请日期 |
2014.02.20 |
申请人 |
重庆大学 |
发明人 |
刘艳;韩根全;王洪娟 |
分类号 |
H01L29/739(2006.01)I;H01L29/161(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/739(2006.01)I |
代理机构 |
重庆华科专利事务所 50123 |
代理人 |
康海燕 |
主权项 |
一种带有双轴张应变的GeSn n沟道隧穿场效应晶体管,其特征在于,具有一GeSn n沟道、一衬底、一源极、一漏极、一绝缘介质薄膜、一栅电极; 所述源极是通过外延生长或是键合的方式生长在衬底上,其材料为弛豫的单晶半导体材料GeSn,源极、n沟道、漏极形成竖直的器件结构;所述绝缘介电质薄膜环绕生长在GeSn n沟道上;所述栅电极覆盖在绝缘介电质薄膜上;所述源极材料的晶格常数比 n沟道GeSn晶格常数大;形成沿沟道方向的单轴压应变,沿垂直沟道的平面内的双轴张应变。 |
地址 |
400030 重庆市沙坪坝区沙正街174号 |