发明名称 测量电容之系统及方法
摘要
申请公布号 TWI438446 申请公布日期 2014.05.21
申请号 TW099128984 申请日期 2010.08.27
申请人 美国亚德诺半导体公司 美国 发明人 艾瑞特 圣地牙哥;墨菲 马克
分类号 G01R27/26 主分类号 G01R27/26
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项
地址 美国