发明名称 半导体器件及其制造方法
摘要 提供一种半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:衬底;在衬底上形成的第一鳍;和在衬底上形成且与第一鳍的一部分接触的隔离膜,其中第一鳍包括与隔离膜接触的第一区、与隔离膜无接触的第二区、以及在第一区和第二区之间的分界线,第一区具有相对于分界线是直角的斜度,以及第二区具有相对于分界线是锐角的斜度。
申请公布号 CN103779394A 申请公布日期 2014.05.07
申请号 CN201310511980.7 申请日期 2013.10.25
申请人 三星电子株式会社 发明人 赵纯;尹彰燮
分类号 H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/06(2006.01)I
代理机构 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人 翟然
主权项 一种半导体器件,包括:衬底;在所述衬底上形成的第一鳍;和在所述衬底上形成且与所述第一鳍的一部分接触的隔离膜,其中所述第一鳍包括与所述隔离膜接触的第一区、与所述隔离膜无接触的第二区、以及在所述第一区和所述第二区之间的分界线,所述第一区具有相对于所述分界线是直角的斜度,以及所述第二区具有相对于所述分界线是锐角的斜度。
地址 韩国京畿道