发明名称 |
半导体器件及其制造方法 |
摘要 |
提供一种半导体器件及其制造方法。该半导体器件包括:衬底;在衬底上形成的第一鳍;和在衬底上形成且与第一鳍的一部分接触的隔离膜,其中第一鳍包括与隔离膜接触的第一区、与隔离膜无接触的第二区、以及在第一区和第二区之间的分界线,第一区具有相对于分界线是直角的斜度,以及第二区具有相对于分界线是锐角的斜度。 |
申请公布号 |
CN103779394A |
申请公布日期 |
2014.05.07 |
申请号 |
CN201310511980.7 |
申请日期 |
2013.10.25 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
赵纯;尹彰燮 |
分类号 |
H01L29/06(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/06(2006.01)I |
代理机构 |
北京市柳沈律师事务所 11105 |
代理人 |
翟然 |
主权项 |
一种半导体器件,包括:衬底;在所述衬底上形成的第一鳍;和在所述衬底上形成且与所述第一鳍的一部分接触的隔离膜,其中所述第一鳍包括与所述隔离膜接触的第一区、与所述隔离膜无接触的第二区、以及在所述第一区和所述第二区之间的分界线,所述第一区具有相对于所述分界线是直角的斜度,以及所述第二区具有相对于所述分界线是锐角的斜度。 |
地址 |
韩国京畿道 |