摘要 |
本发明专利为一种在坑道内开展γ能谱测量必须的γ能谱仪附属设备及其配套的测量方法。这种装置利用铅对γ射线的强吸收作用,直接利用γ能谱探头(不戴套)对测量点进行测量,各能窗得到的照射量率测量数据I<sub>无</sub>,包含了测点以及周围岩壁的贡献;其次,将γ能谱探头放入可拆卸式铅筒套(戴套)进行测量,得到的各能窗的照射量率测量数据I<sub>套</sub>与I<sub>无</sub>是不同的,I<sub>套</sub>中周围岩壁的贡献因铅套的吸收已经变得很小。将二次测量结果进行比较,依据事先测定出铅套对各能窗射线的透过率系数,就可求出扣除周围环境影响后的测量点的γ射线照射量率值,并据此计算出不受周围坑道壁影响的U、Th、K含量。 |