发明名称 一种坑道定向γ能谱探测方法
摘要 本发明专利为一种在坑道内开展γ能谱测量必须的γ能谱仪附属设备及其配套的测量方法。这种装置利用铅对γ射线的强吸收作用,直接利用γ能谱探头(不戴套)对测量点进行测量,各能窗得到的照射量率测量数据I<sub>无</sub>,包含了测点以及周围岩壁的贡献;其次,将γ能谱探头放入可拆卸式铅筒套(戴套)进行测量,得到的各能窗的照射量率测量数据I<sub>套</sub>与I<sub>无</sub>是不同的,I<sub>套</sub>中周围岩壁的贡献因铅套的吸收已经变得很小。将二次测量结果进行比较,依据事先测定出铅套对各能窗射线的透过率系数,就可求出扣除周围环境影响后的测量点的γ射线照射量率值,并据此计算出不受周围坑道壁影响的U、Th、K含量。
申请公布号 CN102590877B 申请公布日期 2014.04.23
申请号 CN201210011670.4 申请日期 2012.01.16
申请人 成都理工大学;周四春;胡波 发明人 周四春;胡波;葛良全
分类号 G01V5/00(2006.01)I 主分类号 G01V5/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种坑道定向γ能谱探测方法,其特征在于:根据选择的测量点位置调整好定向γ能谱探测装置支撑架高度,先将γ能谱探头不戴可拆卸式铅筒套对测量点进行测量,得到不戴套的各能窗(U、Th、K)的测量值I<sub>无</sub>;然后,将γ能谱探头放入可拆卸式铅筒套,并调整支撑架将探头前端放置到刚才不戴可拆卸式铅筒套测量的同一位置,戴套进行第二次测量,得到各能窗戴套测量值I<sub>套</sub>,将二次测量结果进行比较,并根据事先测定出的铅套对各能窗射线的透过率系数求出扣除周围环境影响后的测量点的γ射线照射量率值,并据此计算铀、钍、钾含量。
地址 610059 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号