发明名称 提高电离层双高斯模型中MIMO-OTH雷达检测性能的天线布置方法
摘要 本发明公开了一种提高电离层双高斯模型中MIMO-OTH雷达检测性能的天线布置方法,包括:利用了探测信号在到达接收端前经过两次电离层反射,每次的反射系数均服从复高斯随机分布,建立电离层双高斯反射模型,根据MQP模型由天线与目标之间的距离计算得到多径条数,通过对MIMO-OTH雷达的回波信号进行分析,构建电离层双高斯反射模型下的MIMO-OTH雷达信号模型,根据利用尼曼-皮尔逊准则和高斯最优检测器建立假设检验问题,通过计算统计量的累积分布函数,得到MIMO-OTH分集增益表达式和电离层双高斯模型下MIMO-OTH雷达目标检测的分集增益,通过选择合适的雷达天线位置改变多径条数,使雷达系统获得最大分集增益。本发明方法简单,操作方便,提高了雷达系统的检测性能。
申请公布号 CN103728608A 申请公布日期 2014.04.16
申请号 CN201310727940.6 申请日期 2013.12.26
申请人 电子科技大学 发明人 何茜;丁琦;何子述
分类号 G01S7/42(2006.01)I 主分类号 G01S7/42(2006.01)I
代理机构 四川君士达律师事务所 51216 代理人 芶忠义
主权项 一种提高电离层双高斯模型中MIMO‑OTH雷达检测性能的天线布置方法,其特征在于,该提高电离层双高斯模型中MIMO‑OTH雷达检测性能的天线布置方法包括以下步骤:步骤一,利用探测信号在到达接收端前经过两次电离层反射,每次的反射系数均服从复高斯随机分布,建立电离层双高斯反射模型;步骤二,通过对MIMO‑OTH雷达的回波信号进行分析,构建电离层双高斯反射模型下的MIMO‑OTH雷达信号模型;步骤三,根据利用尼曼‑皮尔逊准则和高斯最优检测器建立假设检验问题,通过计算统计量的累积分布函数,得到MIMO‑OTH雷达目标检测的分集增益表达式;步骤四,根据实际应用环境和条件,确定所有可行的MIMO‑OTH雷达天线布置方案;步骤五,对每一可行的MIMO‑OTH雷达天线布置方案,首先根据MQP模型由天线与目标之间的距离计算得到多径条数,然后根据步骤三得到的分集增益表达式,计算电离层双高斯模型下的MIMO‑OTH雷达的分集增益;步骤六,比较所有可行方案的分集增益的大小,选取分集增益最大的方案来对MIMO‑OTH雷达进行天线布置。
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