发明名称 |
一种研究作物根系构型参数与空间分布的分析方法 |
摘要 |
本发明涉及一种研究作物根系生长参数与空间分布的分析方法,可直观分析根系的空间构型。包括以下步骤:1)对作物根系进行精确完整的取样,根据田间根系的实际原状分布位置将土壤剖面细分,将每个土块单元生长的根系进行清洗,低温保存;2)应用高分辨率扫描仪对根系进行扫描,以图片形式保存;3)运用WinRhizo软件对根系图片进行分析,得到根长、根直径和根表面积等根系参数,减少人工测量时出现的误差;4)根据根长、根直径和根表面积等根系参数,用Surfer软件绘制根系空间分布三维图;5)根据根系分布三维图,清晰精确的分析根系的空间分布及构型。本发明的有益效果为:操作简便,分析精确,准确分析根系特征参数及其空间分布特征。 |
申请公布号 |
CN103728418A |
申请公布日期 |
2014.04.16 |
申请号 |
CN201310746739.2 |
申请日期 |
2013.12.31 |
申请人 |
马玮 |
发明人 |
马玮;赵明;王新兵 |
分类号 |
G01N33/00(2006.01)I;G01N1/04(2006.01)I;G01N1/34(2006.01)I;G01N1/42(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I |
主分类号 |
G01N33/00(2006.01)I |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
一种研究作物根系构型参数与空间分布的分析方法,其特征在于,包括以下步骤:1)利用取根器,对作物根系进行精确全面的取样,保持根系的原状分布位置,将根系进行清洗,低温保存;2)应用高分辨率扫描仪对根系进行扫描,将根系扫描成图片形式;3)运用WinRhizo软件对根系的图片进行分析,可将根长、根直径和根表面积等根系参数一次分析出,省时省力,减少人工测量时出现的误差;4)根据根长、根直径和根表面积等根系参数,用Surfer软件绘制根系空间分布三维图,准确表示出根系在土壤空间中的分布;5)绘制出根系分布三维图,可清晰精确的分析根系的空间分布特征及其相应根系参数。 |
地址 |
100081 北京市海淀区中关村南大街12号中国农科院作物所 |