发明名称 通过带为7600-9300nm的红外测温滤光片
摘要 本发明所设计的一种测试精度高、能极大提高信噪比的通过带为7600-9300nm的红外测温滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,该通过带为7600-9300nm的红外测温滤光片,其在温度测量过程中,可大大的提高信噪比,提高测试精准度。该滤光片50%Cut on=7.6±0.05um,50%Cut off=9.3±0.05um;1500~7100nm、9800~14000nm T≤3%;8000~9000nm T≥88%、7700~9200nm Tavg≥90%。
申请公布号 CN103713345A 申请公布日期 2014.04.09
申请号 CN201310631464.8 申请日期 2013.11.29
申请人 杭州麦乐克电子科技有限公司 发明人 吕晶;王继平;胡伟琴
分类号 G02B5/20(2006.01)I;G01J5/08(2006.01)I 主分类号 G02B5/20(2006.01)I
代理机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 代理人 周豪靖
主权项 一种通过带为7600‑9300nm的红外测温滤光片,包括以Ge为原材料的基板,以Ge、ZnS为第一镀膜层和以Ge、ZnS为第二镀膜层,且所述基板位于第一镀膜层和第二镀膜层之间,其特征是:所述第一镀膜层由内向外依次排列包含有:192nm厚度的Ge层、272nm厚度的ZnS层、144nm厚度的Ge层、270nm厚度的ZnS层、137nm厚度的Ge层、202nm厚度的ZnS层、101nm厚度的Ge层、241nm厚度的ZnS层、137nm厚度的Ge层、294nm厚度的ZnS层、173nm厚度的Ge层、450nm厚度的ZnS层、173nm厚度的Ge层、323nm厚度的ZnS层、165nm厚度的Ge层、318nm厚度的ZnS层、180nm厚度的Ge层、420nm厚度的ZnS层、229nm厚度的Ge层、452nm厚度的ZnS层、336nm厚度的Ge层、309nm厚度的ZnS层、249nm厚度的Ge层、365nm厚度的ZnS层、322nm厚度的Ge层、353nm厚度的ZnS层、357nm厚度的Ge层、354nm厚度的ZnS层、162nm厚度的Ge层、690nm厚度的ZnS层、239nm厚度的Ge层、627nm厚度的ZnS层、346nm厚度的Ge层、679nm厚度的ZnS层、356nm厚度的Ge层、631nm厚度的ZnS层、359nm厚度的Ge层、549nm厚度的ZnS层、415nm厚度的Ge层、877nm厚度的ZnS层、165nm厚度的Ge层、740nm厚度的ZnS层、461nm厚度的Ge层和1132nm厚度的ZnS层;所述第二镀膜层由内向外依次排列包含有:699nm厚度的Ge层、440nm厚度的ZnS层、125nm厚度的Ge层、1079nm厚度的ZnS层、495nm厚度的Ge层、777nm厚度的ZnS层、235nm厚度的Ge层、573nm厚度的ZnS层、370nm厚度的Ge层、842nm厚度的ZnS层、499nm厚度的Ge层、1798nm厚度的ZnS层、675nm厚度的Ge层、1104nm厚度的ZnS层、605nm厚度的Ge层、1653nm厚度的ZnS层、624nm厚度的Ge层、1140nm厚度的ZnS层、653nm厚度的Ge层、1663nm厚度的ZnS层、582nm厚度的Ge层、1079nm厚度的ZnS层、839nm厚度的Ge层和530nm厚度的ZnS层。
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