发明名称 |
超分辨荧光显微系统分辨率测试标准板的制造方法 |
摘要 |
本发明公开了一种超分辨荧光显微系统分辨率测试标准板的制造方法,利用纳米加工技术和纳米粒子自组装技术制作20nm-100nm线宽的荧光量子点线条作为荧光超分辨率标准板。目前,用于超分辨荧光显微镜分辨率检测的主要手段是荧光纳米球,但是该方法非常繁琐。本发明提供的制作方法简单可靠,荧光特性优良,制作出的分辨率标准板可直接用于超分辨荧光显微系统的测试。 |
申请公布号 |
CN103712965A |
申请公布日期 |
2014.04.09 |
申请号 |
CN201310717675.3 |
申请日期 |
2013.12.23 |
申请人 |
中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
发明人 |
张志强;蒋克明;黎海文;张运海;吴一辉 |
分类号 |
G01N21/64(2006.01)I;G03F7/20(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/64(2006.01)I |
代理机构 |
安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 |
代理人 |
余成俊 |
主权项 |
超分辨荧光显微系统分辨率测试标准板的制造方法,其特征在于:包括以下步骤:1)在基底表面形成光刻胶膜层;2)将图案转移至光刻胶膜层上;3)利用带电聚电解质聚合物对基底进行选择性吸附,在光刻胶膜层中形成多层量子点纳米线条结构后,去除光刻胶膜层;4)在量子点纳米线条结构表面旋涂聚合层或其他保护层。 |
地址 |
215163 江苏省苏州市高新区科灵路88号 |