发明名称 |
一种芯片控制方法及设备 |
摘要 |
一种芯片控制方法,其中,芯片提供n个电压档位,n为大于等于2的自然数,芯片的工作温度被划分成至少二个温度区间,该方法包括:获取芯片的需求频率;检测芯片的当前温度,确定当前温度所属的温度区间[Tm,Tm+1],T表示温度,m为自然数;按照n个电压档位从低到高的排列顺序,比较在第i个电压档位下芯片在分析温度区间的每个温度点均能工作的频率是否高于需求频率,该分析温度区间相对于该温度区间[Tm,Tm+1]存在一个余量δ,且δ≥0;i=0,1,...,n-1;如果是,将第i个电压档位作为芯片的工作电压,将需求频率作为芯片的工作频率。可在满足芯片性能的前提下尽可能地降低芯片的工作电压,从而降低芯片功耗。 |
申请公布号 |
CN102681450B |
申请公布日期 |
2014.04.02 |
申请号 |
CN201210137167.3 |
申请日期 |
2012.05.04 |
申请人 |
华为技术有限公司 |
发明人 |
余剑锋;孙春雷 |
分类号 |
G05B19/04(2006.01)I |
主分类号 |
G05B19/04(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 |
代理人 |
唐华明 |
主权项 |
一种芯片控制方法,其特征在于,所述芯片提供n个电压档位,所述n为大于等于2的自然数,所述芯片的工作温度被划分成至少二个温度区间,所述方法包括: 获取所述芯片的需求频率; 检测所述芯片的当前温度,并且确定所述当前温度所属的温度区间[Tm,Tm+1],其中,T表示温度,m为自然数; 按照所述n个电压档位从低到高的排列顺序,比较在第i个电压档位下所述芯片在分析温度区间的每个温度点均能工作的频率是否高于所述需求频率,其中,所述分析温度区间相对于所述温度区间[Tm,Tm+1]存在一个余量δ,并且δ≥0;i=0,1,...,n‑1; 如果是,则将所述第i个电压档位作为所述芯片的工作电压,以及将所述需求频率作为所述芯片的工作频率; 所述方法还包括: 如果在所述第i个电压档位下所述芯片在所述分析温度区间的每个温度点均能工作的频率低于所述需求频率,则比较在第i+1个电压档位下所述芯片在所述分析温度区间的每个温度点均能工作的频率是否高于所述需求频率; 若在所述n个电压档位下,所述芯片在所述分析温度区间的每个温度点均能工作的频率均低于所述需求频率,则将所述n个电压档位中的最高电压档位作为所述芯片的工作电压,以及将在所述最高电压档位下所述芯片在所述分析温度区间的每个温度点均能工作的频率作为所述芯片的工作频率。 |
地址 |
518129 广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼 |