一种延长芯片使用寿命的数据生成方法和装置

摘要

本发明公开了一种延长芯片使用寿命的数据生成方法和装置。其中，该方法包括：步骤A，根据芯片内存储器中存储的关联信息获取变量因子；步骤B，读取芯片的硬件序列号；步骤C，对上述变量因子和硬件序列号计算生成基础数据；在步骤A中，还包括修改所述存储的关联信息。本发明解决了上述因芯片在固定时刻产生的基础数据相同引起的信息系统不安全的问题，增强了系统的可靠性。

主权项

一种延长芯片使用寿命的数据生成方法，其特征在于，包括：步骤A：根据芯片内存储器中存储的关联信息获取变量因子；步骤B：读取所述芯片的硬件序列号；步骤C：对所述变量因子和所述硬件序列号计算生成基础数据；在步骤A中，还包括修改所述存储的关联信息；其中，所述对所述变量因子和所述硬件序列号计算生成基础数据包括：对所述变量因子和所述硬件序列号进行运算，得到运算值；对所述运算值进行散列算法，得到基础数据；或者，所述对所述变量因子和所述硬件序列号计算生成基础数据包括：在所述芯片中生成随机数，对所述随机数与所述变量因子进行运算，得到一个中间值；对所述中间值和所述硬件序列号进行运算，得到运算值；对所述运算值进行散列算法，得到基础数据；其中，所述存储器为闪存，所述闪存包括一个计数页和至少一个使用页；其中，所述计数页用于存储所述使用页对应的擦写次数，所述使用页包括多个段，每段包括多个位；所述根据存储器中存储的关联信息获取变量因子包括：在所述闪存的使用页中查询目标位并计算所述目标位对应的物理偏移值，并读取所述计数页中的擦写次数；根据所述物理偏移值和所述擦写次数计算变量因子；或者，所述存储器为电可擦可编程只读存储器；所述存储器包括一个计数单元和至少一个使用单元；其中，所述计数单元用于存储所述使用单元的序号，所述使用单元中写入的第一个数值为初始值；所述根据存储器中存储的关联信息获取变量因子，具体为：根据所述计数单元中的序号确定当前读取的使用单元，读取确定的所述使用单元中的数值，根据所述数值生成变量因子；所述修改所述存储的关联信息，具体为：修改所述使用单元中的数值，判断修改后的数值是否超 过设定阈值，如果是，将所述计数单元中的序号调整为下一个使用单元的序号；如果否，直接执行步骤A。