一种基于非同源时钟的ADC芯片测试及数据采集方法

摘要

本发明属集成电路测试领域，涉及一种ADC集成芯片采样时钟与测试数据采集时钟为非同原时钟的测试及数据采集方法，本方法对被测ADC芯片的输出数据信号采集同时对被测ADC芯片采样时钟信号采集，将采集速度提高到采样时钟的N倍，根据采集的时钟信号中0到1和1到0的变化位置确定采样时钟信号上升和下降沿的位置，确定每个采样时钟周期内对应的被测ADC芯片测试输出数据，能避免因采样时钟和ADC输出数据采集时钟的不同源导致的相位偏差累积产生的数据采集误差。本发明利用数据处理的优势和灵活性，解决了被测ADC芯片采样时钟与其输出数据采集需要同源的限制，为不同环境或条件下ADC芯片测试提供了更为灵活的解决方法。

主权项

一种基于非同源时钟的ADC芯片测试及数据采集方法，其特征在于，其包括步骤：（1）根据被测ADC芯片采样频率选择采样时钟源及采样时钟频率值；（2）根据被测ADC芯片采样时钟频率，设置被测ADC数据输出及采样时钟的采集速度≥3倍采样时钟；（3）将采集到的采样时钟信号和被测ADC芯片数据输出信号保存到采集设备中；（4）基于采集设备或将采集数据导出到数据处理设备中，对采集到的采样时钟信号进行搜索，并根据0到1或1到0的跳变位置，确定采样时钟的上升或下降沿位置；（5）根据采样时钟上升或下降跳变沿的位置，对应确定每一个采样时钟周期内被测ADC芯片的输出数据值；（6）确定被测ADC芯片每一个采样时钟周期内所采集的ADC芯片输出数据值，再根据数字信号处理法进行相应的数据处理获得所需的测试参数。