发明名称 Vorrichtung und Verfahren zur Reduzierung von Streustrahlung bei Spektrometern mittels Abdeckung
摘要 Vorrichtung zur Messung eines Spektrums einer von einer Lichtquelle emittierten zu analysierenden Strahlung (S), mit – einem einen ersten Mittelpunkt aufweisenden Eintrittsspalt (5) zur Erzeugung einer spaltförmigen Lichtquelle der Strahlung (S); – einem einen zweiten Mittelpunkt aufweisenden optischen Beugungsgitter (3) zur Ablenkung einer mittels der spaltförmigen Lichtquelle entlang einer durch den ersten und den zweiten Mittelpunkt in einer Hauptebene (H) verlaufenden Achse (A) emittierten Strahlung (S) in Richtung zu – einem eine Mehrzahl von jeweils einen definierten Anteil des Spektrums der Strahlung (S) erfassenden Einzelsensoren (P1, ..., PN) aufweisenden Empfängerbereich (1); wobei ein von dem zweiten Mittelpunkt einen definierten Abstandsbereich aufweisender äußerer Randbereich (3a) des Beugungsgitters (3) mittels einer Abdeckung (7) abgedeckt ist, die eine eine Streustrahlung (Sr) der Strahlung (S) absorbierende und alternativ oder kumulativ eine von dem Empfängerbereich (1) weg reflektierende Materialausbildung aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass eine mittels der Abdeckung (7) erzeugte Öffnung des Beugungsgitters (3) eine derartige Form aufweist, dass ein konstanter Empfindlichkeitsverlauf des Empfängerbereichs (1) erzeugt ist.
申请公布号 DE102011078755(B4) 申请公布日期 2014.03.13
申请号 DE20111078755 申请日期 2011.07.06
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 GERHARD, DETLEF;GERGEN, WERNER;WEBER, MARTIN
分类号 G01J3/02;G01J3/18 主分类号 G01J3/02
代理机构 代理人
主权项
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